Система компьютерной радиографии DUERR "HD-CR 35 NDT"

Технические характеристики.
- Базовое пространственное разрешение сканера: 40 мкм (12,5 пар линий/мм).
- Размер лазерного пятна: 12.5, 25 или 50 мкм.
- Размеры сканируемых пластин: максимальная ширина - 350 мм, длина ограничена размерами получаемых файлов изображений и (в меньшей степени) мощностью компьютера.
- Стандартный размеры пластин: 100х240 мм, 240х300 мм; 100х480 мм; 300х400 мм и др. (возможно изготовление пластин в размер заказчика с шириной до 350 мм).
- Время сканирования: 0,5-2 мин (зависит от режима считывания и размера пластин).
- Размеры сканера: 400х370х470 мм.
- Вес: 17,5 кг (без кейса для хранения и транспортировки);
- Вес: 28 кг (с кейсом и аккумуляторной батареей);
- Параметры электропитания:
- переменное напряжение - 100-240В, 50-60 Гц;
- потребляемая мощность < 140 Вт;
- Диапазон рабочих температур: +10 … +35°С, относительная влажность 80%;
- Уровень шума < 39 dB(A);
- Интерфейс подключения к ПК - Ethernet (протокол TCP-IP), W-LAN (WiFi);
- Дисплей - 4.3“ TFT, 800 x 480 px (сканер имеет сенсорный дисплей высокого разрешения, через который возможно управление всеми функциями сканера без подключения его к ПК);
- Объем карты памяти - SDHC, макс. 32 Гб (сканер имеет возможность безопасного сохранения изображений на карте SD в автономном режиме без ПК);
- Сканер и компьютер имеют заводскую картонную упаковку.

В сканерах DUERR HD-CR 35 NDT Plus нового поколения применена запатентованная технология TreFoc . Новая уникальная технология фокусировки лазера TreFoc позволяет настраивать размер лазерного пятна. Внутри лазерной трубки находится высокоточный механизм ирисовой диафрагмы. Сдвигая или раздвигая лепестки диафрагмы, механизм изменяет диаметр лазерного луча. Пользователю предлагается 3 предустановленных размера лазерного пятна 12.5, 25 и 50 мкм:
- 12,5 мкм – ирисовая диафрагма полностью закрыта
Наиболее подходит при использовании запоминающих пластин высокого разрешения.
Наилучший выбор для решения задач НК в авиационной, космической и атомной промышленностях.
Отличные результаты для контроля сварных швов.
Высокое соотношение С/Ш при базовом пространственном разрешении 40 мкм.
- 25 мкм – ирисовая диафрагма открыта наполовину
Улучшенное значение соотношение С/Ш.
Оптимально подходит для запоминающих пластин среднего разрешения.
Лучшее решение для контроля литья.
- 50 мкм – ирисовая диафрагма полностью открыта
Высокое соотношение С/Ш для областей со стандартным разрешением.
Оптимально подходит для запоминающих пластин стандартного разрешения.
Наилучший выбор для контроля изотопными источниками.
Малый размер файлов изображения.
Высокая скорость считывания.
Малое время экспонирования.