Рентгено-флуоресцентные анализаторы покрытий X-Strata производства OXFORD Instruments (UK) позволяют определять толщину и химический состав тонких покрытий, в том числе и многослойных (металлов) . Применяются для контроля качества покрытий при производстве электронных плат и компонентов, для контроля гальванических покрытий, контроля любых финишных покрытий, покрытий, наносимых методом электрохимической и химической металлизации, содержащих элементы тяжелее S. В отличии от ультразвуковых и вихретоковых толщиномеров, толщиномеры, основынные на рентгено-флуоресцентом методе, позволяют работать с тонкими покрытиями и контролировать многослойные покрытия.