Прямой моторизированный инспекционный микроскоп Nikon Eclipse L200А для полуавтоматического исследования полупроводниковых подложек и трафаретов Микроскоп Eclipse L200A это полностью моторизированная версия модели L200, это идеальный инструмент для полуавтоматической инспекции полупроводниковых пластин диаметром до 200мм и интегральных микросхем в отраженном свете на наличие дефектов.