Микроскоп электронный аналитический ULTRA Plus Сочетает в себе уникальные возможности микроскопа ULTRA 55 и революционную систему компенсации заряда (CC) для получения изображений при исследовании непроводящих образцов. Данная система делает его превосходным инструментом для проведения экспериментов в области материаловедения, научных исследованиях, а также при исследовании полупроводников. Полностью автоматическая система компенсации заряда (CC) может использоваться в сочетании со всеми встроенными детекторами: EsB, AsB, In-lens SE, детектором вторичных электронов Эвернхарта-Торнли, ИК-камерой для обзора рабочей камеры. Таким образом, уникальные способности обоих In-lens детекторов и система зарядного компенсатора делают микроскоп ULTRA Plus отличным наноаналитическим инструментом.